Titre de série :	Traité des matériaux, 3
Titre :	Caractérisation expérimentale des matériaux
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Jean-Luc Martin, Auteur ; Amand George, Auteur
Editeur :	Lausanne : presses polytechniques et universitaires romandes
Année de publication :	1998
Autre Editeur :	[Paris] : diff. Tec et doc
Collection :	Traité des matériaux. num. 3
Importance :	367 p
Présentation :	ill., couv. ill.
Format :	25 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-2-88074-364-2
Note générale :	La couv. porte en plus : "analyse par rayons X, électrons et neutrons" Notes bibliogr. Index
Langues :	Français (fre)
Mots-clés :	Matière  Structure  Microanalyse par émission X  Faisceaux électroniques  Faisceaux de neutrons
Résumé :	Cet ouvrage offre une introduction aux principales techniques de caractérisation structurale et microstructurale des matériaux. Tout en abordant les questions d'analyse chimique élémentaire, le livre met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à quelques micromètres. Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts. L'accent est mis sur les développements récents qu'ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de rayonnement optimisées, microélectronique et techniques informatiques.

Traité des matériaux, 3. Caractérisation expérimentale des matériaux [texte imprimé] / Jean-Luc Martin, Auteur ; Amand George, Auteur . - Lausanne : presses polytechniques et universitaires romandes : [Paris] : diff. Tec et doc, 1998 . - 367 p : ill., couv. ill. ; 25 cm. - (Traité des matériaux.; 3) .
ISBN : 978-2-88074-364-2
La couv. porte en plus : "analyse par rayons X, électrons et neutrons" Notes bibliogr. Index
Langues : Français (fre)

Mots-clés :

Matière  Structure  Microanalyse par émission X  Faisceaux électroniques  Faisceaux de neutrons

Résumé :

Cet ouvrage offre une introduction aux principales techniques de caractérisation structurale et microstructurale des matériaux. Tout en abordant les questions d'analyse chimique élémentaire, le livre met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à quelques micromètres. Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts. L'accent est mis sur les développements récents qu'ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de rayonnement optimisées, microélectronique et techniques informatiques.